Вы здесь

Контроль качества, выявление дефектов и загрязнения

  • Insidix - оборудование для неразрушающего контроля, аппараты акустической микроскопии, ультразвуковое оборудование
  • Sonoscan, INC - системы  ультразвукового неразрушающего визуального контроля - цифровые сканирующие акустические микроскопы высокого разрешения
  • Leica Microsystems, INC - системы оптической когерентной томографии (ОСТ), оптические, конфокальные, цифровые, стерео микроскопы, макроскопы, системы визуализации изображений
  • Nikon Instruments INC - прямые, инвертированные, поляризационные, петрографические, мультифотонные, конфокальные, универсальные  микроскопы, стереомикроскопы, микроскопы сверхвысокого разрешения
  • Aspex - системы электронно-лучевой визуализации (SEM) и EDX-анализа для получения изображений с большим увеличением, быстрый неразрушающий анализ состава и компьютерная автоматизация для определения размеров, формы и элементного состава
  • Chroma ATE Inc. - контрольно-измерительные приборы и испытательное оборудование для солнечной энергетики, полупроводников и интегральных микросхем, LED, LCM/LCD, VIDEO & Color, оптического контроля, PXI инструменты и системы
  • Hologenix - автоматические системы обнаружения оптических дефектов и прецизионного измерения размеров пластин и других деталей
  • Mahr - оптические измерительные приборы: лазерные интерферометры Физо, профилометры, кругломеры, контрольные приборы для оптической промышленности
  • KLA-Tencor Corporation - оборудование для инспекции и метрологии процесса производства п/п и оптоэлектронных материалов и устройств от чистых пластин до корпусирования: системы контроля качества поверхностей, наноинденторы, оптические и стилусные профилометры, тонкопленочные рефлектометры и др.
  • Nada Technologies - линейка контрольно-измерительного оборудования  для нужд участков склейки и пиления полупроводниковых пластин
  • Viscom - оборудование для контроля качества печатных плат, системы 2D/3D автоматической оптической инспекции
  • Sonix - полная линейка решений неразрушающего контроля (NDT),  ручные и автоматизированные системы контроля и метрологии  для таких применений как МЭМС, LED-, TSV(Through Silicon Via)-,  BSI-инспекции
  • Microtronic, INC - автоматизированное оборудование для диагностики макро дефектов полупроводниковых пластин
  • Keyence - оптические датчики и приборы для контроля результатов напыления тонких пленок (микроскопы, 3D профилометры) 
  • Integrated Technology Corp. - тестовое оборудование для силовых полупроводников
  • Delong Instruments - модели электронных микроскопов с сочетанием  трансмиссионной мироскопии (TEM, STEM) и сканирующей (SEM), а также дифракции электронов (SAED)