- Axic, INC - системы мониторинга состава и толщины тонких пленок, системы плазменного травления и осаждения
- Angstrom Sun Technologies, INC - спектроскопические рефлектометры SR, микроспектрофотометры MCP, спектроскопические эллипсометры SE в диапазоне от DUV до NIR для неразрушающего контроля и точного зондирования тонких пленок
- Jasco Incorporated - системы для измерения тонких пленок, нанесенных на кремниевые пластины, с использованием ИК-отражения или пропускания, системы неразрушающего бесконтактного анализа, использующие интерферометрическую технологию для точного измерения толщины пленки
- Nanometrics, INC - системы, позволяющие измерять различные свойства тонких пленок, критические размеры, ошибки совмещения слоев (overlay) для производства полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
- Ulvac Technologies, INC - спектральные эллипсометры для измерения показателя преломления и толщины тонких пленок
High technology for Science, Medicine and Industry
Москва: (495) 960-28-37
Санкт-Петербург: (812) 712-58-68
High technology for Science, Medicine and Industry
Москва: (495) 960-28-37
Санкт-Петербург: (812) 712-58-68